日置C测试仪3506-10又称日置电容测试仪3506-10对应1MHz测试,低容量,高精度,高速测试
模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
根据BIN的测定区分容量
日置C测试仪3506-10|日置电容测试仪3506-10输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。
日置C测试仪3506-10|日置电容测试仪3506-10基本参数
测量参数 C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tanδ)
测量范围 C:0.001fF～15.0000μF
D: 0.00001 ～1.99999
Q:0.0 ～19999.9
基本精度 (代表值)C:±0.14% rdg.D:±0.0013
测量频率 1kHz, 1MHz
测量信号电平 500mV, 1V rms
输出电阻 1Ω(在1kHz时2.2μF以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
显示 LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间 1.5ms：1MHz，2.0ms：1kHz
机能 BIN分类测量,触发同步输出,测量条件记忆,测量值比较功能,平均值功能, Low-C拒绝功能,振动功能,电流检测监视功能,输出电压值监视功能,控制用输入输出(EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
电源 AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz,**40VA
体积及重量 260W ×100H×298Dmm,4.8kg
日置C测试仪3506-10|日置电容测试仪3506-10附件 电源线× 1,电源备用保险丝×1，使用说明书×1
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