一、 概述：
四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，最小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的最小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出；
适用于铝粉、铝材、铜粉、铜材、石墨类产品涂层性质或具有类似性质的低阻值产品的测量，用于生产企业、高等院校、科研部门，**航天材料检验及分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
自带温度，USB，232通讯接口，直流恒流源系统，提供四探针法和四端法两种测量模式并存，中英两种语言版本选择；选购：PC软件可以获得测试过程数据及变化图表曲线，包括压力与电阻，电阻率，电导率的变化关系，及报表生成，存储，打印等；选购：四探针法粉末测试平台提供全自动平台或手动操作平台两种；选购配置四探针探头可以用于对涂层，薄膜，等半导体材料方阻的测量.本机采用双电组合测量方法.
二、 满足标准：四探针测试仪满足GB/T 1551、GB/T1552-1995，ASTM F84美国A.S.T.M 标准；四探针法粉末测试平台依据GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探针法要求制作.
三、 参数资料
规格型号 | FT-361FMA | FT-361FMB |
1.方块电阻范围 | 1×10-6～2×102Ω/□ | 1×10-6～2×105Ω/□ |
2.电阻率范围 | 10-7～2×103Ω-cm | 10-7～2×106Ω-cm |
3.测试电流范围 | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA | |
4.电流精度 | ±0.1% | |
5.整机不确定性
| 误差：≤3%（平均重复性误差，人为因数外） | |
6.显示读数： | 液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率 | |
7.测试方式 | 双电组合测量 | |
8.模具选购： | 模具A内径：20mm ；模具B:内径10mm | |
9.压力选购： | 压力A:0-1000kg； ;压力B:0-200kg | |
10.模腔行程： | 0-30mm (样品压实厚度建议在4mm内)
| |
11.高度测量范围： | 0-25mm分辨率0.01mm | |
12.恒压时间： | 0-999s | |
13.工作电源: | 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗： | |
14选购: | 1）PC软件1套； 2）自动四探针法粉末测试平台； 3）手动四探针法粉末测试平台； 4）四探针探头及平台 | |
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