产品介绍:
PV-2000系列无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统为太阳能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（总厚度变化）TTV、弯曲度及无接触电阻率测量功能。并提供基于TCP/IP的数据传输接口及基于Windows的控制软件，用以进行在线及离线数据管理功能。
产品特点：
■ 使用MTI Instruments独有的推/拉电容探针技术 ■ 每套系统提供*多三个测量通道 ■ 可进行**、*小、平均厚度测量和TTV测量 ■ 可进行翘曲度测量（需要3探头） ■ 用激光传感器进行线锯方向和深度监视（可选） ■ 集成数据***和电气控制系统 ■ 为工厂测量提供快速以太网通讯接口，速率为每秒5片 ■ 可增加的直线厚度扫描数量 ■ 与现有的硅片处理设备有数字I/O接口 ■ 基于Windows的控制软件提供离线和在线的数据监控 ■ 提供标准及客户定制的探头 ■ 提供基于Windows的动态链接库用于与控制电脑集成 ■ 无接触，用涡电流法测量硅片电阻率
技术参数：
■ 晶圆硅片测试尺寸：50mm- 300mm.
■ 厚度测试范围：1.7mm，可扩展到2.5mm.
■ 厚度测试精度：+/-0.25um
■ 厚度重复性精度：0.050um
■ 测量点直径：8mm
■ TTV 测试精度: +/-0.05um ■ TTV重复性精度: 0.050um
■ 弯曲度测试范围：+/-500um [+/-850um]
■ 弯曲度测试精度： +/-2.0um
■ 弯曲度重复性精度： 0.750um
■ 电阻率测量范围：0.1-50ohm-cm ■ 电阻率测量精度：2%
■ 电阻率测量重复精度：1%
■ 晶圆硅片类型：单晶或多晶硅
■ 可用在：切片后、磨片前、后，蚀刻，抛光以及出厂、入厂质量检测等
■ 平面/缺口：所有的半导体标准平面或缺口
■ 连续5点测量
典型客户:
美国，欧洲，亚洲及国内太阳能及半导体客户。
详情欢迎来电咨询：
北京合能阳光新能源技术有限公司
北京市通州区工业开发区光华路16号
： -104 传真：008
联系人：肖经理 QQ：454972757
Email：
公司网站：//www.HenergySolar.com
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