EL140S-M EL缺陷检测仪
适用于电池片和组件,可检测缺陷包括:
■裂片
■微隐裂
■破洞
■断栅
■短路
■印刷不良
■工艺污染等缺陷。
■ 超大靶面CCD,靶面尺寸达到15 ×25mm,是普通CCD靶面的6倍 ■镜头尺寸达到∮52mm,是普通工业镜头进光面积的5-8倍
■ 超低制冷温度,**可达-50 ℃,完全消除背景噪声
■积分式低制冷型红外增强CCD,950nm红外光透过率达到97%
■非鱼眼型镜头,避免了鱼眼镜头产生的图像扭曲、图像变形、边缘阴暗等缺陷,消除了此项重要误差
■ 功能强大的软件,品质可靠的硬件,确保产线无故障生产运行。
■ 操作简便,功能齐备,确保仪器全面解决各种缺陷检测
■ 仪器细节设计完美,消除人为误操作因素
■ 强大的软件功能,实现自动判别缺陷,自动报警,不合格图像单独存储
■人工判别与自动判别相结合,可找出组件细微缺陷,实现全方位检测。
■全自动检测---与产线结合,自动进样、自动定位、自动加电、自动检测、自动存储、自动检测、自动出样回归产线。实现组件无任何人工操作,避免人为损坏组件。
■鼠标随动显示,任意指向目标位置,操作快速简便
■**检测尺寸可达 2200mm×1200mm
■成像时间:0 ~ 5000毫秒 可调节
■图像有效像素:不小于1200万像素
■CCD制冷温度:达到-50°C
■CCD靶面尺寸:不小于25 mm × 15 mm
■镜头尺寸:大尺寸进光镜头,镜头直径不小于∮52mm
■可选配:光强度分布分析检测系统可以三维图像方式,直观、**地生成各部分发光强度分布图,并标出光强**数值。对各部分发电效率一目了然。
公司名称:武汉三工光电设备制造有限公司
公司地址:湖北武汉东湖新技术开发区武汉大学科技园武大园四路
公司://www.sunic.com.cn
联系人:陶女士
:-8013
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Q:1563376021
阿里旺旺:sunic40
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