1、仪器规格:
Ø 外形尺寸 :380 mm x 510mm x 365 mm (长x宽x高)
Ø 样品仓尺寸 :360mm×330 mm×50 mm (长x宽x高)
Ø 仪器重量 :33.5kg
Ø 供电电源 :AC220V/ 50Hz
Ø **功率 :330W
Ø 工作温度 :15-30℃
Ø 相对湿度 :≤85%,不结露
2、镀层测厚仪器特点:
Ø 外形特点:
ð 仪器结构采用人体工程学设计,仪器两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运。
ð 上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重。
ð 样品盖采用铅玻璃防辐射技术,在保证操作人员安全的前提下,方便观察样品;
ð 表面采用**汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配,蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰。
Ø 辐射防护:
ð 样品盖镶嵌铅板、铅玻璃屏蔽X射线。
ð 辐射标志警示。
ð 迷宫式结构,防止射线泄漏。
ð 安全连锁设计;测试过程中误打开样品盖时,电路0.1μS快速切断X射线。
ð 仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。
Ø 硬件技术:
ð 超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命。
ð 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。
ð 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计。
ð 电路系统符合EMC、FCC测试标准。
ð 快拆卸样品台,换薄膜更方便。
Ø 软件技术:
ð 分析元素:Na~U之间元素。
ð 分析时间:60~400秒。
ð 配置RoHS检测分析模型、无卤分析模型和镀层厚度分析模型。
ð 软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作。
ð HeLeeX ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份,一键还原功能,保护用户数据安全。
ð HeLeeX ED Workstation V3.0根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试**度。
ð HeLeeX ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。
镀层测厚仪器硬件配置
1、探测器
Ø 类型:Si-PIN探测器(采用原装风进口高性能电致冷半导体探测器)
Ø 进口探测器
Ø Be窗厚度:1mil
Ø 晶体面积:25mm2
Ø *分辨率:149eV
Ø 信号处理系统DP5
2、X射线管
Ø 电 压 :0~50kV
Ø **电流 :2.0mA
Ø **功率 :50W
Ø 靶 材 :Mo
Ø Be窗厚度 :0.5mm
Ø 使用寿命 :大于2万小时
3、高压电源
Ø 进口高压电源
Ø 输出电压:0~50kV
Ø 灯丝电流:0~2mA
Ø **功率:50W
Ø 纹波系数:0.1%(p-p值)
Ø 8小时稳定性:0.05%
3.4、摄像头
Ø 微焦距
Ø 免驱动
Ø 500万像素
3.5、准直器、滤光片
Ø 快拆卸准直器、滤光片系统
Ø 多种材质准直器
Ø 光斑大小Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3.0mm、Φ5.0mm
Ø 多种滤光片、准直器组合,软件自动切换
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