日本松定MATSUN XR-505-50-01 X射线高压电源

日本松定MATSUNAGA，X射线高压电源，XR-505-50-01

• 一、岛津EDX-720 X射线荧光光谱仪主机部分:
  1、 X射线发生器单元
  X射线管
  类型 Rh靶
  冷却方法 空冷（附风扇）
  2X射线电源单元
  电压 5-50kV，每步1Kv（测定重金属(Cd,Pb,Hg,Br,Cr等)时，可以用50ｋV。但测定轻元素时，15kV是***有效的。另在工作曲线法中，随时可设定***佳电压。） 电流 1-1000μA，每步1μA
  稳定度 ±0.01%（外电压波动±10%）
  保护电路 过电压, 过电流, 过功率,
  X射线连锁保护
  （特点说明：电压、电流可以由计算机控制自动调节，满足不同元素的高精度分析，同时满足RoHS，ELV指令扩展的要求）
  3、一次X射线滤波片 5种自动交换
  （特点说明：不同元素应该采用不同的滤光片进行分析，这样才能有效降低背景，得到高准确度的测量数据。EDX-720进行元素分析时可以自动判断元素和更换相应的滤光片，无须手动更换）
  二、岛津EDX-720 X射线荧光光谱仪检测器:
  1、检测器
  类型 Si（Li）检测器
  液氮 只有在分析时添加
  液氮消耗 少于1升/天
  检测面积 10mm2
  分析元素 Na-U
  分辨率 ：小于150电子伏特
  （特点说明：采用液氮制冷方式的检测器具有高分辨率，可以避免元素谱线之间的干扰，从而保证高准确度的分析。在性能、实绩、稳定性上，Si(Li)半导体是**性的实绩（岛津检测器是自己生产，在万一发生故障也迅速对应）。掘场按振动检测器的性能下降。精工较差的Si-PIN半导体分辨率为220eV、在分析树脂中的Cd、Pb时，容易受到Br和Sb等共存元素的干扰、并有时不能检出，还有因为是低强度，在测试金属中有害元素的感度也差。）
  2、计数单元
  放大器
  拟合时间 10μ秒
  增益变化 高/低
  多道分析器（MCA）
  变频型 顺序比较ADC
  道数 2048道
  ***大计数率 232-1/道
  三、岛津EDX-720 X射线荧光光谱仪样品室与测定室单元
  1、样品室
  盖子 自动开启/关闭（带安全系统）
  每次测定时盖子自动上升与下降。
  ***大样品尺寸 300mm 直径 x 150mm高
  （特点说明：样品室自动开启，样品盖子的结构设计有效避免X光的泄露，满足日本及中国X射线的泄露控制标准。超大型的样品室可以容纳大型的部件直接放入测试，无须切割）
  2、测定室
  X射线照射面积 下照射
  光栏直径 1、3、5、10mm可选
  （特点说明：不同的分析面积采用不同尺寸的光栏，可以保证各种大小样品的高精度测试。）
  测定室开孔 13mm
  3、测定气氛：大气
  4、CCD观察定位系统
  配备CCD数码观察系统，可以准确定位分析区域。
  

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