无接触式电阻率型号厚度综合测试仪HS-RW-200
产品介绍：
HS-RW-200型无接触式电阻率型号厚度综合测试仪是基于涡流测试技术、电容测试技术，能够对半导体晶片进行无接触、无损伤的电阻率、型号以及厚度测试，综合测试大大节省测试时间。
无接触式电阻率型号厚度综合测试仪-产品特点
■采用涡流法测试晶片电阻率
■采用电容法测试晶片厚度
■无接触、无损伤快速测试
■测试前无需表面处理
■特别对于多晶，能够有效避免晶界对测试的影响
■电阻率测试范围：0.001-1-20 ohm.cm
■厚度测试范围：200-1200um
无接触式电阻率型号厚度综合测试仪-技术指标
■ 晶片可测量电阻率范围：0.001-1-2Ohm.cm
■ 晶片可测量厚度范围：200-1200um
■ 测量时间：1Point/s
■ 晶片直径：40-200mm
■ 推荐使用温度：23℃±3
■ 湿度：≤80%
■ 气压：86-106kPa
■ 使用电压：220±10V
■ 频率：50±3Hz
■ 功率消耗：≤50W
■ 尺寸（LxWxH）：410x310x270mm 重量：15kg
典型客户
美国，欧洲，亚洲及国内太阳能及半导体客户。
免责声明：当前页为 HS-RW200单多晶硅片无接触厚度TTV电阻率型号测试仪产品信息展示页，该页所展示的 HS-RW200单多晶硅片无接触厚度TTV电阻率型号测试仪产品信息及价格等相关信息均有企业自行发布与提供， HS-RW200单多晶硅片无接触厚度TTV电阻率型号测试仪产品真实性、准确性、合法性由店铺所有企业完全负责。世界工厂网对此不承担任何保证责任，亦不涉及用户间因交易而产生的法律关系及法律纠纷，纠纷由会员自行协商解决。
友情提醒：世界工厂网仅作为用户寻找交易对象，就货物和服务的交易进行协商，以及获取各类与贸易相关的服务信息的渠道。为避免产生购买风险，建议您在购买相关产品前务必确认供应商资质及产品质量。过低的价格、夸张的描述、私人银行账户等都有可能是虚假信息，请您谨慎对待，谨防欺诈，对于任何付款行为请您慎重抉择。
投诉方式：fawu@gongchang.com是处理侵权投诉的专用邮箱，在您的合法权益受到侵害时，请将您真实身份信息及受到侵权的初步证据发送到该邮箱，我们会在5个工作日内给您答复，感谢您对世界工厂网的关注与支持！
(c)2008-2024 世界工厂网V3.6 All Rights Reserved 豫ICP备2024066506号
