介电常数介质损耗试验仪（供应）

GDAT-A工频介电常数及介质损耗测试仪
产品名称：工频介电常数及介质损耗测试仪
产品型号：GDAT-A

满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

一、介电常数介质损耗试验仪概述

GDAT高频Q表作为**一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内**的160MHz。
GDAT高频 Q 表采用了多项**技术：

双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高**、幅度的高稳定。
计算机自动修正技术和测试回路**化 —使测试回路 残余电感减至**，彻底** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了**的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具
，测量值更为**，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。
一、介电常数介质损耗试验仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至**，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为**。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
 

技术参数：
测量范围及误差
              在Cn＝100pF    R4＝3183.2（Ω）（即10K/π）时_

            在Cn＝100pF    R4＝318.3（Ω）（即1K/π）时

Cx＝R4×Cn/R3
tgδ＝ω·Ｒ４·Ｃ４
高压电源技术特性
电压输出：0～2500V/50Hz
高压电流输出：0～20mA
内置标准电容器
电容量的名义值为100pF
tgδ小于5×10^-5

GDAT型介质损耗测试装置技术特性

平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选 　　　　　
极片间距可调范围：≥15mm
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
4．测微杆分辨率：0.001mm
 
电感：
 
线圈号    测试频率   Q值   分布电容p      电感值 
 9        100KHz     98      9.4          25mH
 8        400KHz    138      11.4       4.87mH
 7        400KHz   202      16          0.99mH
 6          1MHz    196      13         252μH
 5          2MHz    198      8.7       49.8μH
 4        4.5MHz   231      7            10μH
 3         12MHz     193    6.9        2.49μH
 2         12MHz     229    6.4       0.508μH
            
  1  25MHz，50MHz  233，211   0.9      0.125μH

主要配置：
a.测试主机一台；
b.电感9只；
c.夹具一 套
附表 电感组典型测试数据 

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