上海精谱 上海电镀层X荧光膜厚测试仪 快速无损检测

上海电镀层X荧光膜厚测试仪

上海电镀层X荧光膜厚测试仪Thick-900系列X荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。

技术特性

1． X-Y-Z样品平台移动装置

Thick-900系列X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置，具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。

2. X射线管激发系统

激发系统采用独特的正置直角光学结构设计。高电压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示。**功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。高效长寿命X光管：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命、国际**水平的X光管，指标达到国际**水平。**功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。

3．高分辨率的探测器系统

进口原装电制冷探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。*分辨率能达到149eV±5ev。

4．能谱仪电子学系统

原装进口前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率，高抗干扰能力的一体化电子线路。模数转换器采用高精度的2048道。

5．计算机分析系统

****计算机；高分辨率彩色液晶显示器。

**打印机。

6．系统软件

国际**的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的准确性。

7．电源

AC 220V～240V、50Hz 。

额定功率：350W，选配高精度参数稳压电源。

8．仪器尺寸、重量

样品腔尺寸：498*360*158 mm（W*D*H）

主机外形尺寸：580*500*580 mm （W*D*H）

主机重量：约50KG。

技术应用:

塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。

1.铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是工业中常见的，利用Thick-900系列X荧光镀层测厚仪可以获得很的结果。

荧光厚度与已知厚度样品结果对比：

2.铜上镀镍再镀金的双镀层厚度测量铁、铜等材料上先镀镍再镀金的厚度测量也是工业中常见的，见下表：