SC-E型大米外观品质检测分析仪
1用途:用于各种类大米(精米、糙米、糯米等)各项外观品质指标的**自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。
2系统组成:双光源扫描成像仪及附件、分析软件和电脑(电脑另配)。
3 主要性能指标:
★配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪来成像(中晶 ScanMaker i800 Plus)。透扫幅面30 cm×20 cm,最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。
★可自动一次性测量分析30g以上大米样品的:垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、可直接检测大米透明度的国标等级(国家发明专利号ZL 2013 1 0172280.X)、黄粒米、杂质量、异品种粒、不完善粒(未成熟粒),及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的碾米精度、裂纹率,以及糙米胚芽率。
自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.05mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02;整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%)。可大批量自动分析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米、农业部新标准【大米】NY/T2334-2013、大米粒型分类判定LS/T6116-2016、粮食行业标准 大米LS/T 3247—2017等标准相对应,检测各项指标的质量比和粒数比。各分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图,以及按宽度、长度、面积等输出的排列图和测量图。
★具有自动学习与识别特性,可自动分割粘连的大米、种粒,可做自动分类分析。
★具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒范围0.25-20mm,自动数粒精度≥99%,交互修正后准确率达****。
4.环境条件:
温度10~30℃,相对湿度≤85%,防止强光照射。仪器应放在平稳工作台上,周围无强烈的机械振动和电磁干扰;电源要求220V±10%,50Hz。
注:本技术标书中打★款项必须响应,否则为重大偏离
选配电脑推荐:品牌一体机电脑(酷睿双核CPU / 4.0G内存/1G显存/ 500G硬盘 / 19.5”彩显/无线网卡,4个以上USB2.0口,Windows完整旗舰版)
免责声明:当前页为 万深 SC-E型大米外观品质检测分析仪产品信息展示页,该页所展示的 万深 SC-E型大米外观品质检测分析仪产品信息及价格等相关信息均有企业自行发布与提供, 万深 SC-E型大米外观品质检测分析仪产品真实性、准确性、合法性由店铺所有企业完全负责。世界工厂网对此不承担任何保证责任,亦不涉及用户间因交易而产生的法律关系及法律纠纷,纠纷由会员自行协商解决。
友情提醒:世界工厂网仅作为用户寻找交易对象,就货物和服务的交易进行协商,以及获取各类与贸易相关的服务信息的渠道。为避免产生购买风险,建议您在购买相关产品前务必确认供应商资质及产品质量。过低的价格、夸张的描述、私人银行账户等都有可能是虚假信息,请您谨慎对待,谨防欺诈,对于任何付款行为请您慎重抉择。
投诉方式:fawu@gongchang.com是处理侵权投诉的专用邮箱,在您的合法权益受到侵害时,请将您真实身份信息及受到侵权的初步证据发送到该邮箱,我们会在5个工作日内给您答复,感谢您对世界工厂网的关注与支持!