测定原理 X射线荧光分析法
测定方法 能量色散型
测定对象 固体、液体、粉状
测定范围 13Ai~92U
样品室尺寸 **W370*D320*H155mm
迅速测定ppm级的有害金属!
应对WEEE & RoHS、ELV等有害物质相关法规。
应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令,保证产品和用料的绿色环保。
BTXPROFILER的XRD技术来自于美国宇航局NASA埃姆斯实验室重金属测试仪,该技术曾被美国宇航局火星计划'好奇号'、'漫游者'使用过;XRF技术则是奥林巴斯ED-XRF技术的结晶,两大技术结合,可以提供材料的元素、成分、结构等全方面的信息,可减少实验成本,节约时间和空间。BTXPROFILER 采用两套独立的X射线源和探测器重金属测试仪器,以保证快速获取全面优质的数据信息,XRD部分使用CCD二维面探测
器,该探测器可以获取整个德拜环的衍射数据信息,XRF部分则采用SDD探测器,实现更低的检测下限和更高的灵敏度。
技术规格
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