TS系列冷热冲击试验箱,售后保障
高低温冲击试验箱设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;
设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到*小;
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;
可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能
TS系列冷热冲击试验箱,售后保障
冷热冲击温度控制
可实现温度定值控制和程序控制;
全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯;
每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性;
USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要;
采用国际流行的制冷控制模式,可以自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%;
制冷及电控关键配件均采用国际知名品牌产品,使设备的整体质量得到了提升和保证;
高低温冲击设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
G**150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
G**150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
G** 150.5 A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
G** 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验、
TS系列冷热冲击试验箱,售后保障
型号 |
|
|||||||
TSD-80F-2P |
TSD-150F-2P |
TSD-200F-2P |
TSD-300F-2P |
|||||
标称内容积(升) |
80 |
150 |
200 |
300 |
||||
试验方式 |
气动风门切换2温室或3温室方式 |
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性能 |
高温室 |
预热温度范围 |
+60~+200℃ |
|||||
升温速率※1 |
+60→+200℃≤20分钟 |
|||||||
低温室 |
预冷温度范围 |
-78-0℃ |
||||||
降温速率※1 |
+20→-75℃≤80分钟 |
|||||||
试验室 |
温度偏差 |
±2℃ |
||||||
温度范围 |
TSD:(+60→+125)℃ TSD:(-40--10)℃;TSD:(+60~+150)℃ TSD(-55~-10)℃; TSD:(+60~+150)℃TSD:(-65~-10)℃ |
|||||||
温度恢复时间※2 |
5分钟以内 |
|||||||
试样搁架承载能力 |
30kg |
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试样重量 |
7.5kg |
7.5kg |
10kg |
10kg |
||||
内部尺寸(mm) |
W |
500 |
600 |
750 |
850 |
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H |
400 |
500 |
500 |
600 |
||||
D |
400 |
500 |
600 |
800 |
||||
外形尺寸(mm)※4 |
W |
1460 |
1560 |
1710 |
1880 |
|||
H |
1840 |
1940 |
1940 |
2040 |
||||
D |
1500 |
1600 |
1700 |
1900 |
||||
※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。 |
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※2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布) |
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型号 |
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TSD-80F-2P TSD-80F-2P |
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TSD-408-2P TSD-408-2P
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标称内容积(升) |
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200 |
300 |
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试验方式 |
气动风门切换2温室或3温室方式 |
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性能 |
高温室 |
预热温度范围 |
+60~+200℃ |
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升温速率※1 |
+60→+200℃≤20分钟 |
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低温室 |
预冷温度范围 |
-78-0℃ |
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降温速率※1 |
+20→-75℃≤80分钟 |
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试验室 |
温度偏差 |
±2℃ |
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温度范围 |
:(+60→+125)℃→(-40--10)℃; :(+60~+150)℃~(-55~-10)℃; :(+60~+150)℃~(-65~-10)℃ |
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温度恢复时间※2 |
5分钟以内 |
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试样搁架承载能力 |
30kg |
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试样重量 |
7.5kg |
7.5kg |
10kg |
10kg |
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内部尺寸(mm) |
W |
500 |
600 |
750 |
850 |
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H |
400 |
500 |
500 |
600 |
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D |
400 |
500 |
600 |
800 |
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外形尺寸(mm)※4 |
W |
1460 |
1560 |
1710 |
1880 |
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H |
1840 |
1940 |
1940 |
2040 |
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D |
1500 |
1600 |
1700 |
1900 |
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※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。 |
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※2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布) |
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