日本日立 SU8010 冷场发射扫描电子显微镜(SEM+EDS)
主要配置:
能谱仪(EDS);离子溅射仪(Au-Pd靶)等
主要用途:
用于有机和无机材料的微观形貌结构的研究,通过观察微观形貌以及元素的含量来控制样品的质量。
主要技术指标:
分辨率:0.3nm;
加速电压:0.1 ~ 30kV (0.1KV);
具有高位和低位二次电子探测器;
样品台驱动:3轴马达驱动(包含 两轴手动);
物镜光阑: 4孔可调式,内置加热自清洁装置
主要学科领域:
材料科学,矿山工程技术,能源科学技术,航空、航天科学技术
服务技术领域:
新材料及生产工艺和设备,纳米材料,其他
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