晶圆基片外观尺寸检测筛选机--是一种新型自动化外观尺寸检测筛选设备，主要用于代替人工对各种类型的晶圆晶片、半导体硅片、抛光片等光学元器件进行称重检测、尺寸检测、外观检测、缺陷检测，字符检测等，检测完成后自动筛选分类，检测合格率****。大大提高了光学元器件的外观尺寸检测精度和检测速度，并且大大降低人工检测成本，检测光学元器件的种类多，检测项目广，是理想的基片光学元器件外观检测筛选设备。 晶圆基片外观尺寸检测筛选机原理：采用CCD影像控制系统作为主控单元，利用位移、视觉传感技术对产品图像进行判别，根据设置的产品参数，自动完成上料、检测、判别，*后自动筛选出良品与不良品。
晶圆基片外观尺寸检测筛选机技术特点： ● 非标定制，满足用户的不同需求 ● 全自动CCD视觉检测，代替人工检测，降低人工检测成本 ● ****检测合格率 ● 检测精度高，*高检测精度±0.005mm ● 检测项目多，检测范围广 ● 检测速度快，全天无休，*快检测速度4500片/min ● 科技含量高技术**、精度高、稳定性好质量可靠、操作方便。 ● 检测及装配过程中平稳、准确、无振动、冲击等不良现象。 ● 采用德国CCD高分辨率相机，质量可靠性能较好。 ● 可配自动输送装置、自动装配装置，完成进出料自动化 。 购买晶圆基片自动检测筛选设备，请认准“凌诺”，全自动检测尺寸外观缺陷检测筛选，降低人工成本80%。我们不断推陈出新，努力使每一次推出的新品都比上一代更好，更优惠；所出售的设备均免费保修一年；终身维护，我们的口号是：“顾客需要的，就是我们要做的”。
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