X射线成像系统:
X射线成像系统，平板探测器;
动态平板探测器:
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型号 |
5863 |
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类型 |
CMOS |
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有效面积 |
58.6mm*63mm |
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像素矩阵 |
1172*1260 |
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像素尺寸 |
50µm |
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闪烁体 |
CsI |
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能量范围 |
40kV~120kV |
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ROI |
支持自定义 |
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触发模式 |
内触发/外触发 |
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空间分辨率 |
≥10.0lp/mm@1×1 |
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图像位数 |
16bit |
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*大帧速率 |
>16fps @1x1，>32fps @2x2 |
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MTF |
≥60%@1lp/mm,≥30%@2lp/mm |
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电源 |
DC12V±10% |
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功耗 |
≤10W |
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使用环境 |
+10ºC~+40ºC |
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存储环境 |
-20ºC~+60ºC |
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整机尺寸(W×L×H) |
180mm×193mm×56mm |
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重量 |
2kg |
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