产品编号:20211126-09
销售产家:固安县双玉仪器有限公司
X射线是一种波长极短,能量很大的电磁波,X射线的波长比可见光的波长更短(约在0.001~100纳米,医学上应用的X射线波长约在0.001~0.1纳米之间),它的光子能量比可见光的光子能量大几万至几十万倍。
综合测试卡
综合测试卡构成见表3,综合测试卡在射线探伤机、工业CT、医用CT、医用X光诊断设备安装、调试中常用到。图4为星形测试卡。
综合测试卡可用于检测图像的分辨率、图像畸变程度、常用灰度等级、亮度、对比度。星形测试卡除上述功能外,还可以用于测量射线源的焦点尺寸。这类测试卡是射线机、工业CT、医用CT、医用X光诊断设备的安装、调试、检测、维修、保养不可少的工具。
检验方法
铅箔厚度试验
将测试卡与事先测定厚度的铅箔并列放置,用X线摄影(摄影条件可选择适当的管电压一般为80kVp,调节MAS值时胶片铅箔部分的密度为0.7左右。比较胶片的黑化程度,调整测试卡的厚度。
辨率范围:
0.6-5.0 l p/mm 0.6-10.0lp/mm
更多的分辨率要求,。
铅当量:0.01PB 0.05PB
线和间距/线宽:3至50 um,16英寸
16套左8x8mm Si基座2x2mm的L&S布局
上图为大小为5μm L&S的图像。
Au狭缝数为3行2空间。
本公司经营线对卡业务和其他相关产品的业务,更多产品的详细信息请咨询固安县双玉仪器有限公司,将会给您更加满意的解答,期待您的到来。
产品编号:20211126-09
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线对卡30lp/mm
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