AE0X微米级光栅尺设计用于测量和检查工程物体的位移、尺寸、跳动、表面轮廓和变形。
主要特点：
◇ 0.1 ?m 分辨率
◇ ±2 ?m 精度
◇ 测量范围从 3 到 55 mm
◇ 可应用***，对被测物本身***制（低反射率、镜面、透明……都不影响）
◇ 测量的***技术
◇ 增量编码器信号的仿真
-技术规格：
AE0X微米级光栅尺技术规格：
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