产品简介
A、产品用途:编程座、测试座,对QFN20的IC芯片进行老化、烧写、测试
B、适用封装:QFN20引脚间距0.65mm
C、测试座:QFN20-0.65
D、特点:采用探针,接触更稳定,寿命长,机械寿命:10W次
E、工作温度:-55℃~155℃ 电流:1A max
F、我司可提供规格书(布板图),PDF档\CAD
规格尺寸
A、型号:QFN-20-0.65
B、引脚间距(mm):0.65
C、脚位:20
D、芯片尺寸:5*5mm
产品特点:
Open Top 测试座主要用于各种半导体芯片的的自动烧录等。
可根据客户的需求,如频率,电流,阻抗等,提供合适的材料及测试结构。
测试座的结构可以是open top式的,也可以是ATE机台式。
可根据客户需求定制各种socket尺寸。
产品规格:
测试座材料: PEI/PPS/PEEK/Torlon
座头材料: 铝合金6061/PEI
探针类型: 弹簧探针POGO PIN
工作温度: -40 ~ 140度
探针机械寿命: 100k次
探针弹力: 20g ~ 30g
Open-top Socket尺寸:
序号 |
A |
B |
类型 |
1 |
26 |
26 |
Open-top |
2 |
28 |
30 |
Open-top |
3 |
30 |
30 |
Open-top |
4 |
44 |
42 |
Open-top |
名称 |
引脚数 |
间距 |
尺寸 |
QFN48 |
48 |
0.35 |
5X5 |
QFN12 |
12 |
0.4 |
4x2.5 |
QFN20 |
20 |
3x3 |
|
DFN8 |
8 |
0.5 |
2X2 |
BGA8 |
8 |
1.56X2.16 |
|
QFN8 |
8 |
2X2 |
|
QFN8 |
8 |
2X3 |
|
QFN16 |
16 |
3x3 |
|
BGA100 |
100 |
7X7 |
|
BGA144 |
144 |
0.65 |
8X8 |
QFN20 |
20 |
0.65 |
5x5 |
QFN8 |
8 |
0.8 |
3X4 |
QFN8 |
8 |
0.8 |
4X4 |
DFN8 |
8 |
1.27 |
6X5 |
QFN8 |
8 |
1.27 |
6X5 |
QFN8 |
8 |
1.27 |
8X6 |
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