产品简介
A、产品用途:编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行老化、烧写、测试
B、适用封装:QFN32引脚间距0.5mm
C、测试座:QFN32-0.5
D、特点:采用探针，接触更稳定，寿命长，机械寿命：10W次
E、工作温度：-55℃~155℃ 电流：1A max
F、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD
规格尺寸
A、型号:QFN-32-0.5
B、引脚间距(mm):0.5
C、脚位:32
D、芯片尺寸:5*5mm
产品特点：
Open Top 测试座主要用于各种半导体芯片的的自动烧录等。
可根据客户的需求，如频率，电流，阻抗等，提供合适的材料及测试结构。
测试座的结构可以是open top式的，也可以是ATE机台式。
可根据客户需求定制各种socket尺寸。
产品规格：
测试座材料： PEI/PPS/PEEK/Torlon
座头材料： 铝合金6061/PEI
探针类型： 弹簧探针POGO PIN
工作温度： -40 ~ 140度
探针机械寿命： 100k次
探针弹力： 20g ~ 30g
Open-top Socket尺寸：
|
序号 |
A |
B |
类型 |
|
1 |
26 |
26 |
Open-top |
|
2 |
28 |
30 |
Open-top |
|
3 |
30 |
30 |
Open-top |
|
4 |
44 |
42 |
Open-top |
|
名称 |
引脚数 |
间距 |
尺寸 |
|
QFN48 |
48 |
0.35 |
5X5 |
|
QFN12 |
12 |
0.4 |
4x2.5 |
|
QFN20 |
20 |
3x3 |
|
|
DFN8 |
8 |
0.5 |
2X2 |
|
BGA8 |
8 |
1.56X2.16 |
|
|
QFN8 |
8 |
2X2 |
|
|
QFN8 |
8 |
2X3 |
|
|
QFN16 |
16 |
3x3 |
|
|
BGA100 |
100 |
7X7 |
|
|
BGA144 |
144 |
0.65 |
8X8 |
|
QFN20 |
20 |
0.65 |
5x5 |
|
QFN8 |
8 |
0.8 |
3X4 |
|
QFN8 |
8 |
0.8 |
4X4 |
|
DFN8 |
8 |
1.27 |
6X5 |
|
QFN8 |
8 |
1.27 |
6X5 |
|
QFN8 |
8 |
1.27 |
8X6 |
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