Dage XD7500VR Jade FP X光检查机

Nordson Dage XD7500VR Jade FP X光检查机

主要检测：电子元器件、PCBA 电路板内部焊接，短路，气孔，气泡，裂纹，及异物检查。

Nordson DAGE XD7500VR Jade FP X光检查机使用新平板探测器技术，可提供高效的清晰实时影像的产品检测。Nordson DAGE开放、透射式X光管具有使用寿命长的灯丝技术，配备133万CMOS平板探测器，使得该系统在实时的高放大倍率，高解析度X影像技术。X光管设计在底部 ， 通过等中心线设计操作平台的移动和影像探测器的倾斜，所有的控制可通过软件简单的点击操作完成，不需要摇杆操作。如此可实现产品的安全无碰撞检测。所有的功能可以简单快捷进行自动检测，而不需要进行复杂的编程技术。

优势

Nordson DAGE开放、透射式X光管

特征分辨率<0.95μm

在最高160KV管电压，3W标靶功率时仍可达到次微米级特征分辨率

使用Nordson DAGE 133万像素，10帧/秒的CMOS 平板探测器，可实现实时模式影像增强功能，且使用寿命长

1400倍几何放大倍率，4200倍系统放大倍率

最大样品尺寸：29"x 22.8"(736 x 580 mm)

保持放大倍率不变的情况下最大可达到65度倾斜角

23"TFT LCD 显示器

自动检测功能不需具备任何编程技巧

高清晰实时影像

微CT选项

参 数

· Nordson DAGE VR950新技术、开放、透射式X光管:

- 所有电压均可达到<0.95微米特征分辨率

- 最高电压160KV，标靶功率: 3W

- 灯丝组件使用寿命长

- 自动稳压光管

· 1,400 倍光学放大倍率 (4,200 倍系统放大倍率)

· 简单，无碰撞，高放大倍率，高解析度检测系统:

- 在倾斜角度下检测同样具备上述特点

- 无摇杆，鼠标点击操作

· 最大样品检测尺寸:29"x 22.8"(736 x 580 毫米)

· 最大检尺寸:20"x 17.5"(508 x 444 毫米)

· 达65度倾斜角检测

- 测试点360度环绕旋转检测

- 等中心操作平台结构保证了可视范围内的影像分辨率

· 使用寿命长的33万像素(1536*864像素比)CMOS数字探测器:

-10帧/秒的全息“实时”影像成像系统

- 实时影像增强功能

· 16位数字影像处理系统

· 防震动控制处理

· 23" TFT LCD操作显示器

· Nordson DAGE X射线影像操作软件包含如下功能:

- 自动或手动进行元器件失效分析，包括BGA和QFN

- 简单快捷制作稳定的自动检测程序

- 贯穿孔填充百分比计算

- 精确的测量功能

- 可自动或手动测量芯片内气泡比例

- X影像导航图，方便定位缺陷位置

- 使用简单，无需复杂的摇杆操作

· 外壳全封闭式铅屏蔽安全系统

- 射线辐射泄漏量<1μSv/hr

系 统

尺寸: 1450x1700x1970 mm (宽x长x高)

系统质量: 1950千克 (4300 磅)

最大样品重量: 5 千克

电源: 单相200–230伏, 16安培

最大功率: 1000 瓦