eMMC169/153翻盖弹片转SD接口测试座
产品特点:
1.采用标准SD接口模式,通过读卡器与电脑连接或通过编程器SD接口连接实现测试或烧录等相应操作;
2.兼容有球无球测试,IC限位框采用模具一体成型,可根据IC选择不同尺寸限位框进行更换,实现不同尺寸IC能够通用;
3.支持热拔插,支持通过SD接口或通过连线与板上排针对应PIN相连接进行测试;
4.PCB采用4层线路结构,减少产品在使用中因信号干扰引起测试不稳定等现象,金手指镀厚金处理,保证使用的耐用性及接触性;
5. 同时兼容:东芝、三星、海力士、Intel、Sandisk 等品牌IC;同时兼容 153/169-FBGA ;
6.弹片采用进口铍铜经高精度模具冲压成形,头形仿探针设计,后期加硬、加厚镀金层处理,从而保证产品稳定性及耐用性;
7.连接模块采用整体结构,减少重复定位问题,保证其接触点与IC PAD**对位,一次测试通过率高;
8.SOCKET与PCBA采用定位孔**定位方便更换;socket采用翻盖式结构,更加便于手动测试,操作方便简单;
9.采用模具整体成型加弹簧自适应结构,保证不同厚度的IC不需要任何调整即可保证其接触良好测试,IC通用性广(厚度0.6-2.0MM 范围都可测试);
10.结构采用注塑成形,定位**,取放IC方便,工作效率更高;
注意:请选择和IC尺寸匹配的限位框,并对照SOCKET上标注的1PIN方向把eMMC芯片平放入SOCKET内!
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